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ENZYKLOPÄDIE DER FUNKELEKTRONIK UND ELEKTROTECHNIK
Kostenlose Bibliothek / Schemata von radioelektronischen und elektrischen Geräten

Ein Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren. Enzyklopädie der Funkelektronik und Elektrotechnik

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Lexikon der Funkelektronik und Elektrotechnik / Messtechnik

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Die vorgeschlagene Vorrichtung ist dafür ausgelegt, die Position der Kollektor-, Basis- und Emitteranschlüsse an den Gehäusen von Bipolartransistoren mit niedriger, mittlerer und hoher Leistung zu bestimmen, die Struktur (npn oder pnp) zu bestimmen und auch den Stromübertragungskoeffizienten in einer Schaltung mit zu messen ein gemeinsamer Emitter (p21E). Für Isolierschicht-Feldeffekttransistoren mit eingebautem und induziertem Kanal werden die Pin-Positionen (Drain, Source, Gate) und der Kanalleitwerttyp (n oder p) bestimmt. Zusätzlich kann das Gerät als DC-Voltmeter verwendet werden. Alle Informationen werden auf zwei LCD-Anzeigen angezeigt.

Wichtigste technische Merkmale:

Im Determinantenmodus für Bipolartransistoren der Basisstrom bei der Messung von P21E
Low-Power, µA ......... 20
mittel und groß
Leistung, mA................1
zusammengesetzt, mA................0 1
Maximal gemessener Wert p21E
konventionell ................1999
zusammengesetzt, tausend ....... 19,99
Untere Messgrenze P21E
Niedrigleistung ................40
Komposit ................200
mittel und groß
Leistung................20
Zeitpunkt der Bestimmung, s, nicht
über .........................0,2
Im Voltmeter-Modus werden die Grenzen der gemessenen Gleichspannung V. .0,00...19,99
Eingangswiderstand, MΩ ..... 10
Versorgungsspannung, V.....5 (vier
Ni-MH Akku Größe AA, AAA) Maximale Stromaufnahme (bei Messung
p21e), A.......................2,2
Stromaufnahme im Standby-Modus oder Voltmeter, mA ..........................2

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren
Fig. 1

Das Schema des Geräts ist in Abb. 1. Die Anzeige der Ausgänge von Bipolartransistoren - Kollektor, Basis, Emitter - und Feld - Drain, Gate, Source - erfolgt auf der LCD-Anzeige HG2 mit den Symbolen "C", "b", "E". und der Unsicherheitszustand - mit den Symbolen "b", "b", "b". Die Struktur von Bipolartransistoren (npn oder pnp) und die Art der Kanalleitfähigkeit (n oder p) des Feldeffekttransistors sind auf derselben Anzeige durch die Symbole "p" bzw. "P" angegeben.

Belegung von Schaltern und Tastern. In der "Komp." Schalter SA1 testet zusammengesetzte Transistoren im "Normal". - konventionell, bei Feldeffekttransistoren kann die Schalterstellung beliebig sein. Wenn Sie die Taste SB1 "Power" drücken. Getestet werden Transistoren mittlerer und hoher Leistung sowie Feldtransistoren mit eingebautem Kanal. In der Position "p21e" des SA2-Schalters wird dieser Parameter von Bipolartransistoren gemessen, und in der Position "U" arbeitet das Gerät als Voltmeter mit einer Gleichspannungsmessgrenze von 19,99 V. Im letzteren Fall, wenn Sie Drücken Sie die SB2 "Fledermaus". die Anzeige HG1 zeigt den Wert der Versorgungsspannung (Batterie).

Das Gerät besteht aus zwei Haupteinheiten - einem Voltmeter und einer Determinante von Transistorausgängen. Das Voltmeter ist auf dem ADC DD10 mit Informationsausgabe an die LCD-Anzeige HG1 montiert. Derselbe Indikator zeigt den Wert von p21E des Bipolartransistors an. Die Versorgungsspannung von -4,5 V ADC DD10 erhält von einem Spannungswandler, der auf einem Logikelement DD1.1, einem invertierenden Gleichrichter basierend auf Dioden VD1, VD4, Kondensatoren C5, C8 und einem Pegelwandler DD3 - von einem Gleichrichter mit Spannungsverdopplung aufgebaut ist an den Elementen VD2, VD3, C6, C7 Versorgungsspannung 9,8 V. Einer der Eingänge des Logikelements DD1.1 ist mit dem Ausgang des Hauptoszillators ADC DD10 verbunden, der mit einer Frequenz von 50 kHz arbeitet.

Vom BP-Ausgang (Pin 21) des ADC DD10 werden Rechteckimpulse mit einer Wiederholrate von 62,5 Hz dem Eingang des Logikelements DD7.2 zugeführt, und sein Ausgangssignal ist der Takt für den Betrieb der Determinante. Die Impulse vom Ausgang dieses Elements werden den Elementen D, E und F der drei höchstwertigen Ziffern der LCD-Anzeige HG2 zugeführt, die ständig angezeigt werden, da sie nicht ausgeschaltet werden müssen, wenn die Zeichen "C" "b" und "E" werden angezeigt Spannungsimpulse vom Ausgang des Elements DD7.2 werden auch den Eingängen der Elemente DD5.3, DD5.4 und DD2.4, DD14.4, DD15.4 zugeführt. DD12.3, an deren Ausgang in Abhängigkeit von den bestimmenden Signalen Steuersignale für die Elemente A oder C in denselben Stellen und die Elemente F, A und B in der niederwertigsten Stelle des LCD-Anzeigers HG2 erzeugt werden.

Vom Ausgang des Elements DD5.3 werden Taktimpulse über die Integrationsschaltung R21C12 mit einem Teilungsfaktor von 4 dem Zähler DD128 zugeführt. Alle 2 s erscheint beim nächsten Abfall des Eingangsimpulses eine Hochpegelspannung dessen Ausgang, aus dem die Differenzierschaltung R1C3 einen Rücksetzimpuls des gesamten Gerätes auf den ursprünglichen Zustand und Neustart erzeugt. Da die Mikroschaltungen der 74AC-Serie (inländisches Analogon der KR1554-Serie) kurze Schaltdauern haben, die von den Zähleingängen der Mikroschaltungen der K561-Serie und ihrer Analoga instabil wahrgenommen werden, werden die Integrierschaltungen R21C12 und R23C4 eingeführt, die den Anstieg und Abfall erhöhen von Impulsen von den Ausgängen der Elemente DD5.3 und DD5.4 auf 2 ms. Impulse von der R21C12-Schaltung werden auch an den COM-Ausgang der HG2-Anzeige gesendet und durch die exklusiven ODER-Elemente DD8.1-DD8.4 - an die G-Elemente in den drei höchstwertigen und die E- und G-Elemente in den unteren Ziffern der HG2 LCD-Anzeige.

Der zu testende Transistor ist mit seinen Ausgängen mit den Klemmen XS1, XS2, XS3 verbunden, die mit den Ausgängen eines leistungsstarken Dreikanalschalters verbunden sind, der auf Feldschalttransistoren VT1-VT4, VT8, VT9 aufgebaut ist. Die Steuersignale dafür werden an den Ausgängen der Elemente der DD3-Pegelwandler-Mikroschaltung erzeugt, die als Pufferelemente verwendet werden. Drei identische Stromeinstellschaltungen der Widerstände R3 R5, R12R17R19 und R24R26R27 sind mit den Ausgängen eines leistungsstarken Schalters verbunden, der von einem ebenfalls dreikanaligen Schalter mit geringer Leistung geschaltet wird, der auf den Tasten DD13.1-DD13.4, DD16.3 montiert ist. 16.4, DDXNUMX.

Die Bestimmung der Schlussfolgerungen erfolgt durch periodisches Ändern des Zustands der Ausgänge eines leistungsstarken Schalters - die Kombination aus offenen und geschlossenen Transistoren VT1 - VT4, VT8, VT9 ändert sich. In jedem Moment ist nur einer der Transistoren VT1, VT3, VT8 offen, sodass einer der Ausgänge des zu testenden Transistors mit der 5-V-Versorgungsleitung verbunden ist, gleichzeitig einer der Transistoren VT2, VT4 , VT9 und der zweite Ausgang des zu testenden Transistors sind in dem anderen Kanal offen, der mit dem Widerstand R6 verbunden ist, der als Transistorausgangsstromsensor wirkt. Im dritten Kanal eines Leistungsschalters sind beide Feldeffekttransistoren geschlossen, aber in diesem Moment wird je nach Zustand des Niederleistungsschalters einer der stromeinstellenden Widerstandskreise ganz oder teilweise mit seinem Ausgang verbunden . Eine solche Schaltung ist so ausgelegt, dass sie der Basis eines Bipolartransistors Strom (oder Spannung an das Feldgate) zuführt, durch den zweimal im selben Zustand eines leistungsstarken Schalters die Basis oder das Gate "gepollt" wird, zuerst für die npn-Struktur (n-Kanal), dann für pnp (p-Kanal).

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren
Fig. 2

Ein vollständiger Transistortestzyklus umfasst sechs Kombinationen des Zustands eines leistungsstarken Schalters, während jeder Transistorausgang zweimal als Kollektor, Basis und Emitter (Drain, Gate, Source) verbunden wird. Bei einer der Kombinationen werden die Ausgänge so verbunden, dass in der Widerstandsschaltung, die mit den geschlossenen Transistoren des Schalters verbunden ist, ein Strom erscheint, der als Basisstrom genommen wird und, wie Sie wissen, das Auftreten von verursacht den Kollektor- (und Emitter-)Ausgangsstrom. Auf Abb. 2 zeigt vereinfachte Schaltungen zum Einschalten von Transistoren beim Bestimmen von Schlussfolgerungen. Das Vorhandensein des Ausgangsstroms bewirkt, dass am Stromsensor R6 eine Spannung erscheint, die den Zustand des Schalters festlegt, und die entsprechende Information wird auf den LCD-Anzeigen HG1, HG2 angezeigt.

Das Auftreten von Spannung am Sensor ist jedoch nur eine notwendige, aber nicht hinreichende Bedingung für die korrekte Bestimmung der Schlussfolgerungen. Erstens wird in zwei Kombinationen einer der in Vorwärtsrichtung vorgespannten p-n-Übergänge (Kollektor oder Emitter) des Bipolartransistors mit der Stromversorgung in Reihe mit dem Widerstand R6 verbunden, und dieser Widerstand hat eine Spannung von etwa 4,3 V. Aufschlussreich Eine solche falsche Definition ist ganz einfach: Wenn Sie den Verbindungspunkt des Widerstands R (Abb. 2) von +5 V auf einen gemeinsamen Draht oder umgekehrt ändern, ändert sich der Ausgangsstrom praktisch nicht. Zweitens treten aufgrund von Transienten in den Momenten der Zustandsänderung eines leistungsstarken Schalters Spannungsimpulse am Widerstand R6 auf. Während des Auftretens dieser Impulse ist der Detektionsprozess blockiert. Drittens, wenn der Transistor umgekehrt eingeschaltet wird, fließt auch ein Strom durch ihn, aber sein Wert ist klein, und eine solche falsche Bestimmung kann unter Verwendung einer Schwellenvorrichtung eliminiert werden. Schließlich kann der Transistor einfach kaputt sein oder die Klemmen X1-XXNUMX sind versehentlich geschlossen. All diese Faktoren werden in der Geräteschaltung berücksichtigt.

Bevor Sie mit der Beschreibung des Prozesses zur Bestimmung der Schlussfolgerungen fortfahren, betrachten Sie den Betrieb der auf dem Operationsverstärker DA1.2 und dem Transistor VT11 montierten Schwellenvorrichtung. Der invertierende Eingang dieses Operationsverstärkers ist mit dem Widerstand R6 verbunden, und der nichtinvertierende Eingang ist mit einer Referenzspannungsquelle von 0,5 V verbunden, die an den Widerständen R22, R25 und einem Stromstabilisator an einem VT10-Transistor und Widerstand R29 gesammelt wird. Diese Spannung stellt die untere Schwelle zum Bestimmen der Ausgänge des Transistors basierend auf dem spezifizierten Mindestwert h21e dar. In den allermeisten Fällen wird der inverse Modus des zu testenden Transistors mit diesen Parametern nicht erkannt. Beim Schalten der Schwellenvorrichtung wird ein positiver Spannungsabfall vom Widerstand R32 an den Eingang C des DD6.1-Triggers geliefert, um den Zustand des Leistungsschalters zu fixieren, die Basis "abzufragen" und mit der Messung des nächsten Rücksetzimpulses zu beginnen. Am Ausgang 2 des Zählerdecoders DD3 liegt eine Spannung mit hohem Pegel an. Diese Spannung wird dem Eingang S des Triggers DD2 zugeführt, und an seinem inversen Ausgang wird für etwa 3 ms eine Spannung mit niedrigem Pegel erzeugt, die einem der Eingänge des ODER-NICHT-Gliedes DD2 zugeführt wird ist notwendig, um die verzögerte Erkennung während Transienten im Schalter zu schützen. Nach diesem Zeitintervall erscheint am Ausgang des Elements DD0 ein Taktimpuls, wodurch der Trigger DD9 und dann der Zählerdecodierer DD6.1 schalten. Sein Ausgang 8 geht hoch und der Pin-Definitionszyklus beginnt.

Die Ausgänge des Zählerdecoders DD9 sind mit den Eingängen der Elemente DD11.1–DD11.4, DD12.1, DD12.2 verbunden, so dass an den Ausgängen dieser Elemente die Steuersignale des Dreikanalschalters gebildet werden . Dieselben Signale steuern zusammen mit den Ausgangssignalen des DD6.2-Triggers den Betrieb von drei identischen Codekonvertern, um die alphabetischen Zeichen "C", "b" und "E" in den drei höchstwertigen Ziffern des HG2-LCD anzuzeigen Indikator. Die Konverter werden auf den Elementen DD1.2-DD1.4, DD2.1 - DD2.4, DD7.1, DD7.3, DD7.4, DD8.1, DD8.2, DD8.4, DD14.1 hergestellt -DD14.4 und DD15.1-DD15.4. Der Zustand der Transistoren eines leistungsstarken Schalters (offen / geschlossen) wird, wie bereits oben erwähnt, über Pegelwandler DD3.1-DD3.6 gesteuert, die Eingangssignale von 5 V in Ausgangsspannungen von etwa 10 V umwandeln, die für erforderlich sind zuverlässiges Öffnen der Transistoren VT1-VT4 , VT8, VT9.

Die Eingänge der Elemente DD5.1, DD5.2 erhalten zwei Impulssignale (Mäander): mit einer Wiederholungsperiode von 32 ms - vom inversen Ausgang des Triggers DD6.2 und Takt 16 ms - vom Ausgang des Elements DD5.4 .5.1. Aus diesen Spannungen werden an den Ausgängen der Elemente DD5.2, DD8 Pulse mit einer Dauer von jeweils 32 ms mit einer Wiederholperiode von 6.1 ms gebildet. Zuerst liegt der Impuls am Ausgang des ersten Elements und nach seinem Ende am Ausgang des zweiten. Der Zweck des ersten Impulses ist der Schutz vor falscher Erkennung, er tritt in den Eingang D des DD5.4-Triggers ein, und an seinem invertierten Ausgang wird weiterhin eine niedrige Spannung gehalten, die den Durchgang von Taktimpulsen zum DDXNUMX ermöglicht Ausgang. Der Zweck des zweiten Impulses besteht darin, die Basis (Gate) des zu testenden Transistors "abzufragen".

Die drei oben erwähnten Widerstandsschaltungen R5.2-R3, R5R12R17 und R19R24R26 sind mit dem Ausgang des DD27-Elements verbunden. Die Wahl von einem, zwei oder drei Widerständen und damit des Basisstroms wird durch die Position der Kontakte des Schalters SA1 und des Knopfs SB1 bestimmt, während die analogen Schalter DD13.1–DD13.4, DD16.3, DD16.4 .8 Trennen und verbinden Sie die entsprechenden Widerstände in diesen Stromkreisen . "Polling" beginnt mit der npn-Struktur - für 5 ms werden die Widerstände dieser Schaltungen mit der 6-V-Versorgungsleitung verbunden, wenn gleichzeitig kein Impuls mit einer Spannung größer als der Schwellenwert am Strom auftritt Sensor R16, dann werden nach diesem Zeitintervall von 6 ms die Widerstände dieser Schaltungen mit einer gemeinsamen Stromleitung verbunden - eine "Abfrage" der Basis für die rr-Struktur wird durchgeführt. Wenn in diesem Fall der angegebene Impuls nicht am Sensor R9 auftritt, geht der Zählerdecoder DDXNUMX nach der zugewiesenen Zeit in den folgenden Zustand - die Kombination aus offenen und geschlossenen Transistoren des Leistungsschalters ändert sich, das Schutzverfahren dagegen falsche Erfassung und "Abfrage" der Basis wird erneut wiederholt. Es sei daran erinnert, dass die Abfrage nur im Kanal mit geschlossenen Transistoren eines leistungsstarken Schalters erfolgt, da die Aktionen der verbleibenden Widerstandskreise durch offene Transistoren blockiert werden.

Wenn am Widerstand R6 eine Spannung größer als der Schwellenwert erscheint, schaltet der Komparator am DA1.2-Operationsverstärker um und ein Impuls geht an den Eingang C des DD6.1-Triggers, der ihn in einen Zustand mit a schaltet Spannung mit hohem Logikpegel am inversen Ausgang. Der Transistor VT7 öffnet und der Eingang des ADC DD10 wird über den Analogschalter DD16.2 mit dem zweiten Stromsensor verbunden - dem Widerstand R14, um den p21e des zu testenden Niederleistungstransistors zu messen. Wenn die SB1-Taste gedrückt wird, öffnet sich der VT6-Transistor, und über die offene Analogtaste DD16.1 geht die Öffnungsspannung zum Gate des VT5-Transistors. Der Widerstand R6 wird parallel zum Widerstand R9 geschaltet, und der Widerstand R14 wird parallel zu R13 geschaltet, in diesem Fall werden Mittel- und Hochleistungstransistoren getestet.

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren

Die LCD-Anzeige HG1 zeigt den Wert des aktuellen Übertragungskoeffizienten des zu testenden Transistors an, und auf der Anzeige HG2 (von links nach rechts) - die alphabetischen Zeichen der Namen der Pins, in der rechten Ziffer - das alphabetische Zeichen von die Struktur des Bipolar- oder Kanaltyps des Feldeffekttransistors (Abb. 3). Bei Fehlen oder Fehlfunktion des zu testenden Transistors, einem kleinen Wert von p21e, hört das Schalten des Zählers DD9 nicht auf, bis an seinem Ausgang 7 eine Hochpegelspannung erzeugt wird, die dem Eingang R des Triggers DD6.1 zugeführt wird. 2, und auf dem LCD-Anzeiger HG4 erscheinen drei Zeichen b", "b", "b" (Abb. XNUMX).

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren

Das Umschalten des Zählers DD9 sowohl am CN-Eingang bei erfolgreicher Bestimmung der Schlussfolgerungen als auch am R-Eingang bei Unsicherheit bewirkt, dass die Taktimpulse nicht mehr vom Ausgang des DD5.4-Elements kommen, was bedeutet, dass der Zustand der Ausgänge der leistungsstarken Schalter- und Codeumsetzer bis zum Eintreffen des nächsten Reset-Impulses durch 2 s fixiert.

Bei der Bestimmung der Ergebnisse von Feldeffekttransistoren mit einem niedrigen Widerstand des offenen Kanals sowie zusammengesetzten Bipolartransistoren mit n21E von mehr als zwanzigtausend können hohe Ströme fließen. Daher wurde eine Strombegrenzungseinheit, die auf dem DA1.1-Operationsverstärker und dem VT7-Transistor montiert ist, in das Gerät eingeführt. Dem nicht-invertierenden Eingang des Operationsverstärkers DA1.1 wird eine beispielhafte Spannung von 220 mV zugeführt. Wenn der Strom durch den zu testenden Transistor auf 2,2 A (für Hochleistungstransistoren) oder 44 mA (für Niedrigleistungstransistoren) ansteigt, übersteigt die Spannung an der Source des Transistors VT7 die beispielhafte, die Spannung an den Gates der Transistoren VT5 und VT7 sinken und der Strom durch den getesteten Transistor wird begrenzt. Die LCD-Anzeige HG1 zeigt ein Zeichen für Überstrom an – eins in der höchstwertigen Stelle.

Das Ausgangssignal des DD12.4-Elements ist so ausgelegt, dass es den Dezimalpunkt in der dritten Ziffer der HG1-LCD-Anzeige anzeigt, um den Wert von p21E in Tausend anzuzeigen, wenn Verbundtransistoren und Spannung im Voltmeter-Modus getestet werden. Zur Messung von Gleichspannungen wird der Schalter SA2 in Stellung „U“ geschaltet und Messsonden an die Buchsen XS4, XS5 „Voltmeter“ angeschlossen. In diesem Modus können Sie die Versorgungsspannung des Geräts steuern, indem Sie die Taste SB2 "Battery" drücken, sowie die Position der Pins und die Struktur der getesteten Transistoren bestimmen, ohne h2i3 zu messen.

Der Widerstand R13 besteht aus einem Stück Mangan- oder Konstantandraht, der Rest sind feste Widerstände C2-23, MLT oder oberflächenmontierte RN1-12, und R30 besteht aus mehreren in Reihe geschalteten, abgestimmten Widerständen - SPZ-38B. Kondensatoren - Keramik K10-17 oder für Oberflächenmontage. Die Verwendung von Schottky-Dioden 1N5818 (VD2, VD3) ist durch das Erreichen der maximalen Versorgungsspannung der DD3-Mikroschaltung gerechtfertigt. Diese Dioden sind durch Ha1N5817, 1 N5819 oder D310 ersetzbar.

Das Hauptkriterium für den Austausch der im Diagramm angegebenen Feldeffekttransistoren ist der Mindestwiderstand des offenen Transistorkanals. Für Transistoren eines leistungsstarken Schalters und VT7 nicht mehr als 0,1 Om, VT5 -0,01 Ohm und / T6 - 2 Ohm bei einer Gate-Source-Spannung von 4,5 V. Wir können den Transistor 2SK241 durch eine beliebige Abschaltspannung mit niedriger Leistung ersetzen 0,5 ... 1,5 V. Der Operationsverstärker LM358N kann durch die Operationsverstärker LM158, LM258, LM2904 ersetzt werden. Schalter - VZOZZ, Taster - TS-0108, Buchsen X1-XZ - vergoldet von einer demontierten Buchse eines inländischen 2RMT-Steckers.

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren

Alle Teile sind auf zwei Universal-Lochplatten 60x90 mm übereinander befestigt montiert. Die obere Platine enthält die meisten Mikroschaltkreise, Anzeigen, Buchsen zum Anschließen der zu testenden Transistoren, Schalter und einen Knopf. Um Platz zu sparen, befindet sich ein Teil der Mikroschaltkreise unter den Anzeigen, und zur einfacheren Montage der Anzeigen werden sie in Sockel aus Platten für Mikroschaltkreise eingebaut (Abb. 5). Auf der unteren Platine sind der Batteriehalter, leistungsstarke Feldeffekttransistoren und der Operationsverstärker installiert (Abb. 6). Die Installation erfolgt mit einem einadrigen verzinnten Kupferdraht mit einem Durchmesser von 0,25 ... 0,3 mm mit einem PTFE-Isolierschlauch.

Gerät zur Bestimmung der Schlussfolgerungen, Struktur und des Stromübertragungskoeffizienten von Transistoren

Zum korrekten Lesen der Informationen über die Position der Anschlüsse des zu testenden Transistors sollten die Buchsen für seinen Anschluss in der folgenden Reihenfolge auf der Platine (von links nach rechts) platziert werden: XS3, XS2, XS1. Während der Installation werden die Kondensatoren C1 und C2 jeweils direkt an den Mikroschaltungen DD1, DD5 installiert. Die Installation von Hochstromkreisen (Transistoren VT1-VT9, Widerstände R13, R14) sollte mit kurzen Drähten erfolgen. Pin 30 des ADC DD10 (IN LO) ist mit einem gemeinsamen Draht am Ausgang der Source des Transistors VT5 verbunden, um Interferenzen zu reduzieren.

Die Einstellung läuft darauf hinaus, das Gerät mit einem Widerstand R10 im Voltmetermodus zu kalibrieren, für den eine Spannung von einer beispielhaften Spannungsquelle an den Eingang angelegt wird. Eine Auswahl des Widerstands R29 setzt die Gate-Spannung des Transistors VT10 auf 0,5 V.

Autor: S. Glibin, Moskau; Veröffentlichung: radioradar.net

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