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Doppelwandige Papiertüte – Verschwinden. Tipps für einen Zauberer
Verzeichnis / Spektakuläre Tricks und ihre Hinweise
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Wenn du es richtig gemacht hast doppelwandige Tasche, dann sollte es keine Probleme geben, das „Verschwinden“ eines Objekts nachzuweisen.
Nehmen wir an, Ihr Ein-Dollar-Schein wird bald verschwinden.
1. Du nimmst eine Tasche vom Tisch (die Seite mit der Geheimtasche sollte dir am nächsten sein) und öffnest sie. Du hältst die Tasche mit der linken Hand. Der Daumen der linken Hand sollte außen liegen, der Zeigefinger in einer Geheimtasche, die restlichen drei Finger im Hauptfach. Das bedeutet, dass die Geheimtasche offen ist. Halten Sie die Tasche leicht (leicht) vom Publikum weg geneigt, damit das Publikum die zweite Wand nicht sieht.
2. Nehmen Sie den Dollar mit der rechten Hand und stecken Sie ihn in das Geheimfach Ihrer Tasche.
3. Platzieren Sie die Tasche mit der linken Hand im Blickfeld des Publikums auf dem Tisch, sodass sich die Geheimtasche auf der Rückseite befindet.
4. Um das Verschwinden zu demonstrieren, nehmen Sie die Tasche von der Rückseite und drücken Sie die versteckte Tasche zusammen, damit sie sich nicht öffnet.
5. Hinweis. Wenn Sie mit der linken Hand die Rückseite der Tasche greifen, drücken Sie mit den Fingern sowohl die Rückseite der Tasche als auch die zweite Wand der Geheimtasche ein. Mit den Fingern verschließen Sie die versteckte Tasche sicher.
6. Machen Sie eine magische Geste „Dollar, verschwinden“ und greifen Sie mit der rechten Hand die vordere, unvorbereitete Wand der Tasche. Den Beutel aufreißen, dabei die unvorbereitete Wand abreißen und den Beutel, der nichts enthält, vollständig öffnen. Der Dollar, den Sie gerade in Ihre Tasche gesteckt haben, ist „verschwunden“.
7. Nachdem Sie gezeigt haben, dass der Beutel leer ist, zerdrücken Sie die Reste und legen Sie ihn beiseite oder werfen Sie ihn hinter die Bühne. Behandeln Sie es mit Leichtigkeit, aber seien Sie vorsichtig: Der Dollar, der in einer Geheimtasche liegt, sollte nicht „aufleuchten“.
Autor: Mark Wilson
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| Zufällige Neuigkeiten aus dem Archiv Innovative Herstellung von 3D-Nanochips
27.07.2013
Neue Mikroskopietechnologie wird die Entwicklung und Kontrolle der Produktion von XNUMXD-Halbleiterchips erleichtern.
Wissenschaftler des National Institute of Standards and Technology (NIST) haben die von ihnen vor einigen Jahren entwickelte optische Mikroskopietechnologie aufgerüstet und angepasst, um Objekte in Nanogröße zu beobachten, was es ihnen ermöglicht, die Produktion von Elementen dreidimensionaler Halbleiterchips zu kontrollieren neue Generation. Mit Hilfe dieser TSOM (Through-Focus Scanning Optical Micr) genannten Technologie kann man nicht nur die nanoskaligen Komponenten von Chips untersuchen, die bis vor kurzem zweidimensionale Strukturen waren, sondern auch Unterschiede in ihrer Form und Größe mit einem ausreichenden Maß bestimmen hohe Genauigkeit, die für die Durchführung der technologischen Kontrolle erforderlich ist.
Neue Generationen von Halbleiterchips bestehen aus dreidimensionalen Elementen, die übereinander gelegt werden. Für den korrekten und zuverlässigen Betrieb des gesamten Chips ist es erforderlich, dass alle Komponenten die richtige Form und genau festgelegte Abmessungen haben. Existierende Mikroskopieverfahren – Elektron, Atomkraft und andere – können die Form und Größe von Chipelementen steuern, aber sie tun dies extrem langsam, mit dem Risiko, die zerbrechliche Struktur des Chips zu beschädigen, und sie sind auch extrem teuer. Und der Einsatz optischer Mikroskopieverfahren ist dadurch begrenzt, dass die Abmessungen der Chipelemente viel kleiner sind als die Hälfte der Wellenlänge des sichtbaren Lichts (250 nm für grünes Licht), sodass ein optisches Mikroskop solch kleine Objekte physisch nicht sehen kann.
Die TSOM-Technologie ermöglicht es Ihnen, Objekte mit einer Größe von etwa 10 nm und in Zukunft noch kleiner optisch zu sehen. Das TSOM-Verfahren verwendet ein herkömmliches optisches Mikroskop, das nicht ein, sondern viele defokussierte XNUMXD-Bilder eines interessierenden Objekts aus mehreren Blickwinkeln aufnimmt. Anhand der Helligkeitsänderungen dieser unscharfen Aufnahmen berechnet der Computer Lichtverläufe und definiert die Grenzen der aufgenommenen Objekte, wodurch das resultierende dreidimensionale Bild entsteht.
Die mit der TSOM-Methode gewonnenen Bilder sind etwas abstrakt, aber die darauf sichtbaren Details ermöglichen es, Unterschiede in Form und Größe von Halbleiterchipkomponenten mit ziemlich hoher Genauigkeit zu bestimmen.
„Unsere Forschung hat gezeigt, dass wir mit TSOM Elemente mit einer Größe von nur 10 nm betrachten können, was ausreicht, um Halbleiterfertigungsprozesse für das nächste Jahrzehnt zu steuern", sagt Ravikiran Attota, Wissenschaftler am NIST. Die TSOM-Technologie kann nicht nur in der Elektronikindustrie, aber auch in anderen Branchen, in der Wissenschaft und überall dort, wo es darum geht, die Formen winziger dreidimensionaler Objekte zu analysieren und zu kontrollieren.“
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