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ENZYKLOPÄDIE DER FUNKELEKTRONIK UND ELEKTROTECHNIK Tester für Dioden und Bipolartransistoren. Enzyklopädie der Funkelektronik und Elektrotechnik
Lexikon der Funkelektronik und Elektrotechnik / Messtechnik Die meisten modernen Tester (Multimeter) haben eingebaute Funktionen zum Testen von Dioden und manchmal Transistoren. Wenn Ihr Tester diese Funktionen jedoch nicht hat, können Sie einen Dioden- und Transistortester mit Ihren eigenen Händen zusammenbauen. Unten ist ein Tester-Projekt, das auf dem Mikrocontroller PIC16F688 basiert. Die Logik zum Testen von Dioden ist sehr einfach. Eine Diode ist ein PN-Übergang, von dem bekannt ist, dass er Strom nur in eine Richtung leitet. Daher leitet eine Arbeitsdiode Strom in eine Richtung. Wenn die Diode Strom in beide Richtungen leitet, ist die Diode funktionsunfähig - defekt. Wenn die Diode in keiner Richtung leitet, funktioniert die Diode auch nicht. Die Schaltungsimplementierung dieser Logik ist unten gezeigt.
Diese Logik kann leicht für einen Bipolartransistortest angepasst werden, der zwei PN-Übergänge enthält: einen zwischen Basis und Emitter (BE-Übergang) und einen zwischen Basis und Kollektor (BC-Übergang). Wenn beide Anschlüsse nur Strom in eine Richtung leiten, arbeitet der Transistor, andernfalls funktioniert er nicht. Wir können den Typ eines PNP- oder NPN-Transistors auch identifizieren, indem wir die Richtung der Stromleitung bestimmen. Zum Testen von Transistoren verwendet der Mikrocontroller 3 Ein-/Ausgänge
Transistor-Testsequenz: 1. Schalten Sie den Ausgang D2 ein (auf Eins setzen) und lesen Sie D1 und D3 ab. Wenn an D1 eine logische Einheit vorhanden ist, leitet der BE-Anschluss Strom, andernfalls nicht. Wenn D3 1 ist, leitet der BC Strom, andernfalls nicht.
Wenn BE und BC außerdem Strom leiten, ist der Transistor vom NPN-Typ und arbeitet. Wenn jedoch EB und CB Strom leiten, arbeitet auch der pnp-Transistor. In allen anderen Fällen (z. B. EB und BE leiten Strom oder beide Übergänge von BC und CB sind nicht leitend usw.) befindet sich der Transistor in einem nicht arbeitenden Zustand. Dioden- und Transistortester Schaltplan und Beschreibung
Die Schaltung des Testers ist sehr einfach. Das Gerät verfügt über 2 Bedientasten: Select (Auswahl) und Detail (mehr). Durch Drücken der Auswahltaste wird der Testtyp ausgewählt: Dioden- oder Transistortest. Die Detailtaste funktioniert nur im Transistortestmodus. Der LCD-Bildschirm zeigt den Transistortyp (npn oder pnp) und den Leitungsstatus der Transistorübergänge an. Die drei Zweige des zu testenden Transistors (Emitter, Kollektor und Basis) sind über einen 1-kΩ-Widerstand mit Masse verbunden. Zum Testen werden die Pins RA0, RA1 und RA2 des Mikrocontrollers PIC16F688 verwendet. Zum Testen der Diode werden nur zwei Ausgänge verwendet: E und K (im Diagramm mit D1 und D2 gekennzeichnet).
Programm Die Software für dieses Projekt wird mit dem MikroC-Compiler geschrieben. Seien Sie beim Testen und Programmieren vorsichtig und beachten Sie die Einstellungen der Ein-/Ausgänge des MK (RA0, RA1 und RA2). sie ändern sich oft während des Betriebs. Bevor Sie einen Ausgang auf 1 setzen, vergewissern Sie sich, dass die anderen beiden I/Os der MCU als Eingänge definiert sind. Andernfalls sind Konflikte von Ein-/Ausgängen des MK möglich.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Autor: Koltykov A.V.; Veröffentlichung: cxem.net
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